半導體參量測試系統招標公告

　上海理工大學光學與電子信息學院超快電子實驗室建設和學科發展的需要，須購置半導體參量測試系統，現在網上公開招標信息，歡迎各單位參與投標。
　　一、招標設備名稱
　　招標物品名稱：半導體參量測試系統
　　二、設備清單
　　1、三目式顯微鏡系統
　　2、光譜卡
　　3、探針點測臺相關機構
　　4、150W Xe光源
　　5、其他相關附件
　　三、技術要求
　　1、三目式顯微鏡系統：
　　要求目鏡放大倍數不低于20倍；物鏡為外掛式，標準放大倍數為2倍，并可在(1/1.5/ 2 /2.5/ 3 /3.5/ 4)倍之間調節。
　　2、光譜卡：
　　要求光譜卡加裝積分球，光纖線，并提供Spectrasuite 軟件
　　3、探針點測臺相關機構：
　　要求具有光纖夾具，探針座機座，基座底板，顯微鏡機座，磁性座x4
　　4、150WXe光源：
　　要求300W功率供給。
　　5、其他相關附件：
　　如：四吋加熱真空吸盤及其加熱系統，三軸探針座，Z軸平移臺ble(1M)等。
　　四、相關要求
　　1、交貨期：合同簽訂后兩個月內。
　　2、安裝調試：賣方負責將貨物送達到買方指定地點，在買方現場安裝、調試系統、并交付使用
　　3、技術服務及培訓：對買方操作人員進行免費培訓。
　　4、驗收標準和方法：賣方提供元件清單，現場安裝、調試完畢后，買方5個工作日內組織驗收，賣方制作驗收備忘錄，買方簽署驗收意見。
　　5、質量保證和售后服務要求： 24個月內免費保修，出現故障報修后24小時內到達現場，48小時內排除故障。如出現現場無法修復的故障，供應商負責提供備用設備并將產品運回廠家修理，由維修產生的一切費用由賣方負擔。保修期后3年內，產品如出現故障，報修后24小時內到達現場，48小時內排除故障，如需更換零部件，使用者只負擔產品維修本身發生的零部件更換費用，且該費用不能超出當時市場價范圍。
　　五、其他：
　　技術負責人：朱老師 電話：13818189753 電子郵箱***
　　招標截止時間：2009年11月9日上午11：00（標書必須封存并注明招標號）
　　標書請寄：上海理工大學設備科(軍工路516號230信箱 郵編200093)
　　聯系地址***
　　聯系電話***